NTNU:TIA:REST

Department of Electronic Systems

Institutt for elektroniske systemer

Godkjent kalkulator

Alle trykte og skrevne

Engelsk

Norsk

Mer om vurdering

Hvis eksamen ikke bestås er det tilstrekkelig å ta eksamen på nytt. Resultat fra obligatorisk semesteroppgave beholdes.

Forkunnskapskrav

Studenten må beherske teori om test av digitale kretser, metoder for testmønster-generering og feilsimulering. Studenten må kjenne til basismetoder for innebygd selvtest.


Faglig innhold

Analyse av fysiske defekter, feilmodellering, testproblemers kompleksitet, algoritmer for automatisk testmønster-generering, nye metoder for innebygget selvtest, inkludert LBIST og ABIST, metrikker for testkvalitet, test av innvevde systemer.

Kursmateriell

Læringsformer og aktiviteter

Forelesninger, kollokvier, lesing av artikler, semesteroppgave.
Emnet undervises annethvert år, neste gang vår 2020.

Læringsutbytte

A. Kunnskap:
Studenten kan forstå og benytte moderne metoder og teknikker for test av digitale systemer.

B. Ferdigheter:
Studenten kan
- utvikle en testbarhets-struktur for en modul.
- teste en modul ved hjelp av den omkringliggende strukturen.
- bestemme feildekningsgraden for en modul.
- benytte verktøy for testgenerering og feilsimulering.

VLSI testmetodikk

Elektronikk

Teknologiske fag

Elektronikk og telekommunikasjon - doktorgrad (ph.d.)

Web/Lists(guid'8b698a2d-6ad0-4f7d-b3be-219cc1979f02')/Items(4246)/FieldValuesAsText

VLSI testmetodikk - FE8121